щийся в защитном контейнере на р2> стоянии 2 м от детекторов, что позволило послойно контролировать плотность материала в десяти точках по высоте слоя. При этом толщина одновремен_>: контролируемого слоя соответствовала толщине щели коллиматора равной 7 л sr. Плотность каждого слоя измеряли периодически через равные промежутки времени, определяемые установкой частота переключения счетчиков коммутатором.
Осциллограммы показывают, что результате увеличения плотности смеси по окончании .процесса вибрирования интенсивность излучения, поступающего на счетчики, значительно уменьшилась •вследствие увеличения поглощения излучения © материале. Одновременное сравнение интенсивности излучения в течение равных интервалов времени на каждом из десяти счетчиков позволяет получить характеристики послойного изменения плотности виброобрабатываемого материала во времени.

Вам еще и понравится чипирование. Все доступно для вас и п омаксимуму. Оцените лучшую информацию уже сейчас по ссылке выше. Она вам понравится.