Шлирен-метод, метод Тёплера, метод обнаружения оптических неоднородностей в прозрачных преломляющих средах и дефектов отражающих поверхностей. Применяется для нахождения т. н. свилей в оптически прозрачных материалах, для исследования качества зеркал и других оптических деталей. Ш.-м. применяют для исследования распределения плотности воздушных потоков, образующихся при обтекании моделей в аэродинамических трубах, используют для проекции на экран изображений (получаемых в виде оптических неоднородностей) в пузырьковых камерах, в телевизионных системах проекции на большой экран, в системах воспроизведения изображений с термопластических и везикулярных фотоматериалов и др. Ш.-м. предложен немецким учёным А. Тёплером в 1867.

 

1.

 

2.

3.

4.

5.

6.

7.

8.

9.

10.

11.

12.

13.

14.